Корпорация развития Зеленограда
Казенное предприятие города Москвы
/ В Зеленограде стартовала XXVI Российская конференция по электронной микроскопии

В Зеленограде стартовала XXVI Российская конференция по электронной микроскопии

138
31.05.2016

30 мая 2016 года стартовал Международный форум «Техноюнити – РКЭМ 2016», в рамках которого также открылась XXVI Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ – 2016). Форум будет проходить в Бизнес-инкубаторе Зеленограда (ул. Юности, д.8) с 10 утра, в течение пяти следующих дней, до 3 июня включительно. 

В программе:
  • XXVI Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ – 2016);
  • Презентации фирм-производителей метрологического оборудования;
  • Научно-практические сессии;
  • Научно-практические школы молодых ученых (получение сертификатов);
  • Круглые столы по научным и бизнес тематикам;
  • Бизнес площадка Россия-Израиль.

Более подробная программа мероприятий доступна на сайте конференции.

Организаторы мероприятия:

  • ФГБУН Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (г. Черноголовка) — организатор;
  • ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН (г. Москва) — соорганизатор;
  • Управляющая компания Инновационного территориального Кластера "Зеленоград" - Казённое предприятие г. Москвы “Корпорация развития Зеленограда”- соорганизатор.
Что происходило сегодня?

10:00 — В здании Корпорации развития Зеленограда в рамках Международного форума «Техноюнити – РКЭМ-2016» начался первый день XXVI Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ 2016). На ней собрались ведущие специалисты из разных отечественных институтов и зарубежных компаний, а также молодые ученые, для которых конференция началась уже вчера во время 4-й Школы молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов».
12:35 — На 11-м этаже с лекциями по электронной микроскопии выступили представители зарубежных компаний: Мартин Грин из британской компании Mantis-Sigma holding на тему New real time XPS chemical analysis of reduction of Titanium Oxide and advances in Low Temperature STM и Карел Новотный из чешского Tescan Orsay holding с докладом на тему Analysis of advanced microelectronic devices by means of electron microscopy.
14:00 — На 11-м этаже проходит выставка оборудования по электронной микроскопии, в которой представлены мировые производители в этой области.

 В рамках мероприятия прозвучит множество устных, а также стендовых докладов по разным секциям:
  1. Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая);
  2. Электронная микроскопия в исследовании новых материалов и наноструктур;
  3. Методы электронной дифракции в исследовании материалов;
  4. Растровая электронная микроскопия;
  5. Сканирующая зондовая микроскопия;
  6. Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений;
  7. Рентгеновская оптика, рентгеновская и оптическая микроскопия;
  8. Электронная и ионная литография;
  9. Применение методов микроскопии в физике, материаловедении, микро- и наноэлектронике;
  10. Применение методов микроскопии в химии и геологии;
  11. Применение электронной, зондовой и конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.